Espectroscopia de fluorescencia de rayos X MSCL-XRF

MSCL-XRF: Espectroscopia de fluorescencia de rayos X (XRF) y registro de núcleos multisensor Geotek ofrece una gama de equipos especializados de exploración / registro de núcleos que utilizan espectrómetros XRF para adquirir abundancia elemental de la superficie de sedimentos y núcleos de rocas. La capacidad de escanear continuamente muestras de núcleos utilizando técnicas petrofísicas y espectroscópicas es un producto exclusivo de Geotek. Los espectrómetros XRF ahora se pueden integrar en sistemas MSCL nuevos o existentes.
Un MSCL es la plataforma perfecta para adquirir datos XRF, ya que ofrece una geometría de medición estable y repetible con cada profundidad de medición registrada conjuntamente con otros sensores de espectroscopia y petrofísicos. Geotek ofrece dos espectrómetros XRF: el Geotek XRF de alta resolución y ultrasensible, y el popular Olympus Vanta de mano. Estos son compatibles con una variedad de sistemas MSCL diferentes, incluidos: el MSCL-S estándar , el MSCL-XZ de tamaño reducido y la estación de trabajo de caja de múltiples núcleos / núcleos MSCL-XYZ .
Aplicaciones de datos XRF
Casi cualquier aplicación geológica, geoquímica o petrofísica se beneficia de la capacidad de maximizar la recuperación de datos del material del núcleo. Los sistemas MSCL de Geotek logran esto mediante la combinación única de XRF de núcleo descendente continuo con otras mediciones de espectroscopía y petrofísicas.
Petróleo y gas/no convencional
-Corroboración de la concentración elemental del registro de fondo de pozo.
-Core para registrar la integración y la correlación.
-Interpretación de la mineralogía y las propiedades de la matriz.
-Vinculación de los rayos gamma del núcleo con el contenido y la densidad elementales
Minería
-Identificación de metales traza e identificación de minerales.
-Abundancias elementales almacenadas y exportadas automáticamente como archivo ascii.
-Co-registro de profundidad de datos elementales con propiedades físicas y magnéticas para la evaluación de recursos.
Geopeligro
-Evaluación de la procedencia de sedimentos.
-Correlación cama / unidad.
-Caracterización del cemento.
-Derivación o proxy para la distribución de minerales.
-Identificación de movimientos masivos.
Investigación
-Abundancias elementales utilizadas como proxy del cambio ambiental.
-Identificación de cenizas volcánicas o escombros de hielo en balsa.
-Caracterización de paleosoles y muestras de testigos de sedimentos / rocas.
-Resolución de registro descendente de 100 µm para estudios de cambio climático de alta resolución.
Ambiental
-Identificación de metales pesados.
-Puede integrarse con imágenes de exploración de líneas ultravioleta para la identificación de hidrocarburos.
-Medidas de campo.
Espectrómetro GEOTEK XRF de alto rendimiento
El espectrómetro de fluorescencia de rayos X (XRF) ultrasensible de Geotek adquiere abundancias elementales precisas de la superficie de sedimentos y núcleos de roca, y ofrece una sensibilidad superior para los elementos ligeros. -El detector de deriva de silicio de gran área de alto rendimiento (SDD) con una celda de medición con flujo de helio mejora drásticamente la sensibilidad, especialmente para los elementos ligeros como Mg, Al y Si.
-La más amplia gama de elementos de Mg a U a niveles de ppm.
-Las rendijas de rayos X motorizadas permiten una resolución espacial descendente de 100 µm o menos.
-Deslizamiento de filtro sofisticado para reducir los límites de detección en una amplia gama de elementos y permite iluminar diferentes áreas de núcleos cruzados, perfecto para estudios de alta resolución de láminas de inmersión.
-Fuente de rayos X sellada de baja potencia para una vida útil prolongada (> 10,000 horas) sin mantenimiento.
-Una geometría de acoplamiento cerrado única para una alta eficiencia a menor potencia del tubo de rayos X.
-El software de diseño personalizado, fácil de usar, se comunica automáticamente con el registrador para adquirir, interpretar y mostrar los espectros de fluorescencia con abundancia de elementos durante la adquisición.
-Las mediciones precisas están aseguradas a través de una combinación de algoritmos de ajuste de picos y deconvolución con un paquete de análisis cuantitativo patentado.